JFK空港で顔認証システム導入 NECが開発

NECは13日、ニューヨークのジョン・F・ケネディ国際空港(JFK空港)に入国審査用の顔認証システム「ネオフェイス(NeoFace)」を納入したと発表した。

同システムは、入国審査用の自動ゲートで読み取った顔写真データとゲート備え付けのカメラで撮影した旅行者の顔写真をリアルタイムに照合し、同一人物であるかを高精度に判定できる。同社の顔認証技術は、米国国立標準技術研究所が実施した照合精度テストで世界1位と評価を受けている。JFK空港のほか、すでに米国アリゾナ州交通局、ブラジル主要14国際空港における税関業務など世界40カ国以上で導入されている。

米国では、テロ対策やセキュリティ向上に合わせて国土安全保障省が全米の国際空港における出入国管理を
強化しており、同社のセーフティ事業強化の一環において導入準備が進んだ。

 
(写真はイメージ)

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